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Profilocolore allo SPIE Optical Metrology 2013

Profilocolore allo SPIE Optical Metrology 2013

13 maggio 2013 Anche quest’anno Profilocolore parteciperà  allo SPIE Optical Metrology , che si terrà dal 13 al 16 maggio a Monaco, Germania. La conferenza europea è ormai un appuntamento consueto e un punto di incontro tra scienziati, ingegneri, ricercatori e produttori per discutere le più recenti invenzioni e le applicazioni nel campo della metrologia ottica….

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