Profilocolore allo SPIE Optical Metrology 2013

13 maggio 2013

Anche quest’anno Profilocolore parteciperà  allo SPIE Optical Metrology , che si terrà dal 13 al 16 maggio a Monaco, Germania.

La conferenza europea è ormai un appuntamento consueto e un punto di incontro tra scienziati, ingegneri, ricercatori e produttori per discutere le più recenti invenzioni e le applicazioni nel campo della metrologia ottica.

Profilocolore presenterà i seguenti lavori:

  • Multispectral hypercolorimetry and automatic guided pigment identification: some masterpieces case studies - M. Miccoli, M. Melis, D. Quarta
  • Multispectral metering and exposimetric system for diagnosis and conservation - M. Miccoli, M. Melis
  • Modular wide spectrum lighting system for diagnosis, conservation and restoration - M. Melis, M. Miccoli

Maggiori informazioni -> http://spie.org

 

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